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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | 產(chǎn)品描述 |
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上海菲希爾膜厚儀配件供應(yīng)商 使用FISCHER探頭，快速、無損地通過電導(dǎo)率測量判定材料熱損傷程度，或通過鐵素體含量檢測判定材料疲勞程度。 -
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x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有良好的多毛細孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點的面積，又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析。 -
Fischer膜厚儀FMP20主機+ FD10探頭 FMP10和FMP20體現(xiàn)了全新FMP系列手持式儀器準確的測量技術(shù)。這些用戶界面友好又堅固耐用的儀器配合可更換的探頭使用可以滿足所有的測量要求。它們能夠顯示重要的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。您的測量結(jié)果可以與校準信息一起以應(yīng)用程式的形式儲存于儀器里，確保您每天快速、可靠地使用。 -
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